產(chǎn)品資料
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
產(chǎn)品名稱: 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
產(chǎn)品型號: LE-200J
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級型號測量范圍0-1500μm小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％數(shù)據(jù)存儲1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì) 的詳細(xì)介紹
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
- 內(nèi)置打印機(jī)的電磁膜測厚儀的鼎級型號
- 測量范圍0-1500μm
- 小于15μm的測量精度：±0.3μm，15μm或更高：±2％
- 數(shù)據(jù)存儲1500點(diǎn)，統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
主要規(guī)格
| 測量方式 | 電磁感應(yīng)式 |
|---|---|
| 測量目標(biāo) | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 測量范圍 | 0-1500μm或60.00密耳 |
| 測量精度 | 小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 統(tǒng)計(jì)功能 | 測量次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，大值，小值，程序段號 |
| 探測 | 單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J） |
| 顯示方式 | 數(shù)字（LCD，小顯示位數(shù)0.1μm） |
| 外部輸出 | RS-232C接口（傳輸速度2400bps） |
| 電源供應(yīng) | AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機(jī)x 6，打印機(jī)x 4 |
| 尺寸/質(zhì)量 | 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤 |
| 配件 | 標(biāo)準(zhǔn)板，鐵座，標(biāo)準(zhǔn)板盒，電池1.5V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機(jī)紙，手提箱 |
| 選項(xiàng) | L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp” |
日本進(jìn)口kett電磁膜厚計(jì)
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