日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x

•*①臺(tái)可以替換和使用兩種類型的探頭（無(wú)損型和接觸型）的便攜式薄層電阻測(cè)量裝置 •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）

•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini 
•顯示：3種類型的顯示單元（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）

*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等 
通常，可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測(cè)量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
（*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸）

<測(cè)量點(diǎn)>

?無(wú)損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測(cè)量范圍

?無(wú)損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

•世界上第①臺(tái)可以替換和使用兩種類型的探頭（無(wú)損型和接觸型）的便攜式薄層電阻測(cè)量裝置 •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）

•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini 
•顯示：3種類型的顯示單元（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）

*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等 
通常，可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測(cè)量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
（*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸）

<測(cè)量點(diǎn)>

?無(wú)損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測(cè)量范圍

?無(wú)損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

 日本napson手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x